本文摘要：电子产品：我们对高频的时钟源分析：晶体／CLKS／CPU／MCU的数据驱动及数据通讯信号对电磁辐射的问题我在前面的文章中有展开分析；《电子产品＆设备：EMI的分析与设计技巧》参照时钟源－CLKS的设计法则解决问题EMI－电磁辐射问题；我将时钟源－CLKS的分析数据获取参照；留意：CLKS频率的谐波分量是特征频率的倍数关系；信息数据有所不同模块的CLKS工作频率差异较为大，其古志谐波的电磁辐射能量与工作载体有关！A．对于倒数等距噪声频谱；假如劣为14MHz，此回应出有有一个14MHz的Clock信号所导致，或者是经过除频后有14MHz的信号产生！如下图：B．对于非倒数CLKS的噪声频谱是我们分析的重点：参照如下测试EMI－电磁辐射测试Data右图的测试Data裕量严重不足及微克的点分别为296MHZ，892MHZ；我们再行研究其测试的曲线微克的频点！基本由此可知此微克的点为CLKS－时钟源引发！在展开数据分析前；我们留意再行要理解产品或设备的应用于范围及产品实行功能的基本单元电路；再行展开分析产品的测试场景＆外接的产品功能及模块！！通过我分析汇总下面的／对信息类产品有：LVDS，HDMI，VBV，DDR（SDRAM）数据通讯CLKS的Data我们就能获得答案！！！
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